Vol.4 No.8

分析評価の最前線

2004.08.10 発行

収録内容

特集: 分析評価の最前線

  • 電子線マイクロアナライザによるサブミクロン領域分析の展開
  • 電子線照射試料損傷の高精度評価法の開発
  • Heプラズマイオン源の開発
  • 高選択的分離法による極微量分析

機構の動き

  • 機構評価委員会開催
  • NIMSの特許出願件数が大幅に増大
  • 新ディレクターの紹介
  • 新ユニットの紹介
  • エンジニア職採用情報
  • 新理事就任
  • 人事異動情報