JSCA表面化学分析国際標準化セミナー2016

2016年9月8日 (木)
10時00分~17時00分

幕張メッセ　国際会議場　1F　103会議室

当セミナーの事前登録は不要です。会場にて、当日受付いたします。
なお、分析展 (JASIS) の事前登録を済ませておくと便利です。

無料

10 : 00~10 : 05   開会挨拶                                                                                藤田 大介 (物質・材料研究機構)
10 : 05~10 : 20   国際標準化戦略について                                                       藤代 尚武 (経済産業省)
10 : 20~10 : 40   ISO/TC202　マイクロビーム分析　
                           ~ 国際規格開発の歴史と将来展望 ~                                    大堀 謙一 ( (株) 堀場製作所)
10 : 40~10 : 50   マイクロビーム分析に関する用語の国際標準化　
                           ~ EPMA、AEM、SEMの用語集 ~　　                                  大堀 謙一 ((株) 堀場製作所)
10 : 50~11 : 10   電子線マイクロビーム分析 (EPMA) の国際標準化
                           ~微小部簡便元素分析法(EPMA分析)の国際規格~                北村 壽朗 ((株) 島津製作所)
11 : 10~11 : 30   分析電子顕微鏡 (AEM) の国際標準化
                           ~ TEMの倍率校正法と電子線回折法を中心として ~           亀井 一人 　(早稲田大学)　　　
11 : 30~11 : 50   走査型電子顕微鏡 (SEM) の国際標準化
                           ~ 長さの標準とSEMの倍率校正 ~                                         松谷 幸 (日本電子 (株) )
11 : 50~13 : 50   休憩
13 : 50~14 : 10   ISO/TC201表面化学分析) 国際標準化の現状と展望              野中 秀彦 (産業技術総合研究所)
14 : 10~14 : 30   X線反射率測定法 (XRR) および
                           全反射蛍光X線分光法 (TXRF) の国際標準化
                           ~X線による表面分析法の原理と使い方~                              辻 幸一 (大阪市立大学)
14 : 30~14 : 50   生体材料の表面分析に関する国際標準化
                           ~TOF-SIMSのバイオ応用の現状~                                         木村 芳滋 (神奈川県立保健福祉大学)
14 : 50~15 : 10   表面化学分析に関する用語、一般的手順、データ処理
                           の国際標準化
                           ~表面化学分析に取り組む際の共通する手引きを学ぶ~      柳内 克昭　 (TDK (株) )
15 : 10~15 : 20   休憩
15 : 20~15 : 40   電子分光法 (XPS、AES) の国際標準化 
                           ~ピーク分離結果の記録の仕方~                                           吉川 英樹 (物質・材料研究機講)
15 : 40~16 : 00   二次イオン質量分析法 (SIMS) の国際標準化　
                           ~正しいデータを得るために~                                               高野 明雄 ((株) トヤマ)
16 : 00~16 : 20   グロー放電分析法 (GDS) の国際標準化　
                           ~極微量元素分析の挑戦~                                                      我妻 和明 (東北大学金属材料研究所)
16 : 20~16 : 40   走査型プローブ顕微鏡 (SPM) の国際標準化
                           ~ナノスケールでの構造・物性測定ガイドライン~               井藤 浩志 (産業技術総合研究所)
16 : 40~16 : 45   閉会挨拶                                                                                  大堀 謙一 ((株)堀場製作所)