第110回先端計測オープンセミナー
環状暗視野STEM像の定量計測手法の開発と結晶構造解析への応用
開催日: 2017.09.22 終了
日時
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講演者
表題
講演要旨
本講演では、我々が開発したADF像の定量計測手法の詳細[1]と、グラフェンを用いてADF像を定量的に計測・解析した結果について紹介する[2, 3]。また、定量的に解析することで明らかとなった現状の計測手法上の問題点についても紹介する。
[1] S. Yamashita et al., Microscopy 64 (2015) 143-150.
[2] S. Yamashita et al., Microscopy 64 (2015) 409-418.
[3] 山下俊介, 石塚和夫, 木本浩司, 顕微鏡 第51巻3号 (2016) 181-184
関連ファイル・リンク
- 先端材料解析研究拠点プロジェクト
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- 先端材料解析研究拠点
イベント・セミナーデータ
- イベント・セミナー名
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第110回先端計測オープンセミナー
環状暗視野STEM像の定量計測手法の開発と結晶構造解析への応用 - 会場
- 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室 - 開催日: 時間
-
2017.09.22
15:00~16:00 - 参加料
- 無料
お問合わせ
-
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-851-3354 内線3861
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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