第133回先端計測オープンセミナー
ヘリウムイオン顕微鏡法を用いた電位分布画像化
開催日: 2018.10.29 終了
日時
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講演者
表題
講演要旨
[1] C. Sakai et al., Appl. Phys. Lett. 109 (2016) 051603.
[2] C. Sakai et al., J. Vac. Sci. Technol. B 36 (2018) 042903.
関連ファイル・リンク
- 先端材料解析研究拠点プロジェクト
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イベント・セミナーデータ
- イベント・セミナー名
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第133回先端計測オープンセミナー
ヘリウムイオン顕微鏡法を用いた電位分布画像化 - 会場
- 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室 - 開催日: 時間
-
2018.10.29
15:00~16:00 - 参加料
- 無料
お問合わせ
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国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-859-2643/2839
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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